Апісанне праduktу
Запыт
ПАРУЖНЫЯ ПРЫЗНАЦКІ
Сістэма інтэлігентнага выяўлення дефектаў на аснове рэнтаўных снацоў выкарыстоўвае першапаловую тэхналогію штучнай інтэлігэнцыі, алгарытм узбіраючага зображення AI-XSP, дасягаючы высокая прастройнасці і адаптыўнасці ў выяўленні чужых аб'ектаў і дефектаў, забезпечваючы эфектыўную тэхнічную падтрымку для павышэння якасці і эфектыўнасці ў прынадлежнасцях.
1. Алгарытм інтэлігентнага выяўлення дефектаў на аснове AI; Укомплектаваны функцыяй саманавучання програмнага забеспячэння і адміранай праверкай.
2. Можа падтрымліваць маленькія чужыя аб'екты, такія як metall, стакло, камені, касці і інш., з магутнай прыменнасцю і высокай праверкай.
3. Падтрымлівае некалькі метадаў выяўлення дефектаў, таких як раскол, выпад, выпад кутаў, накладанне, з высокай праверкай.
4. Адкрытыя калібравальныя інструменты, расшырэнне прыменнікаў праверкі, лёгка мае свае алгарытмы.
5. Стабільная канвayerная структура, гнуткая дэзынацыя, і лёгкае інтэграванне з існуючымі лініямі праўянці.
6. Доступны колькі модэляў, якія падтрымліваюць упаковку праduct, тэстуюць матэрыялы ў масе і т.д .; Можна дадаваць з рознымі тыпамі адмов.
Аб асоблівасцях
1. Добрае інтэлектуальнае ўзровень па знайсці effec
Сістэма інтэлектуальнага выявлення дефектаў X-лучы цудоўна ўжываецца для выявлення чужых аб'ектаў у ўпакаваных сяльскахаспадарчых продуктах, цукраных продуктах, замарожаных продуктах, закусках, молачных продуктах, выпечкі, фруктах і агурчыках, а таксама рыбных продуктах, эфектна выявляючы хімічныя забараўцы, такія як металы, скло і камені, якія ўтрымліваюцца ў ежы і лекарствах. Упершыню ўсталяваны сэнсар з ультра-высокім раз'язам з методам AI modelіng, які мае магутную адаптацыйную спабороню іэффектна выключая фонавыя памешанні, што робіць неймалыя чужыя аб'екты нідзе не ўхаваленымі. Апarat таксама можа дасягнуць паралельнага выявлення дефектаў продуктаў.
2. Маштабавыя тыпы выявлення
Сістэма інтэлектуалнага выявлення дефектаў на рентгенах не толькі эфектыўна і дакладна выяўляе звычайныя металічныя чужыны, але і падтрымлівае AI-платформы адкрыцца, адкрытыя калібравальныя прылады і ёффектыўная для праўда праўдзення прадукцыі. Навучанне алгарытма модэлей, расшырэнне тыпаў выявлення, а потым дасягненне інтэлектуалнага выявлення спецыфічных ціркульных, выдаленне праблемных прадуктаў і папярэчэнне іх уваходжанню на рынак.
3. Параметры апарату няма дэбагінгу
Сістэма інтэлектуалнага выявлення дефектаў на рентгенах мае адлюстраваную якасць, што не толькі лёгка ўсталяць і трывога, але і карысць у аперацыі пра gramadae і гадованае канфігурацыя. Лёгка аперацый і можа быць выкарыстана за хвіліну, большая падтрымка параметр адаптацыі, падыходзячы для розных складаных праўда сяродавяць.
Спецыфікацыя: XS-4016
| ПРЫМЕР | Параметр | |
| Структура | Шырыня тунеля | 400мм |
| Вышыня тунеля | 160 мм | |
| Пазначэнне размера апарату | 2009(В)*1094(Д)*902(Ш), 380Кг | |
| Матэрыял рамы | SUS304 | |
| Перадача | Матэрыял паса | Працавы PU (паўсябовы) |
| Шырэнне паса | 440мм | |
| Вышыня ад паса да падлогі | 800±50мм | |
| Швиддасць передачы | 10~60м/хв | |
| Максімальная навантажэнне | 10кг | |
| X Ray | Напруга цыліндра ў прыладзе X-ray | 40~80кВ |
| Поток цыліндра ў прыладзе X | 200-5000μA | |
| Магутнасць X-праменняў | 210W | |
| Чуласць | Нярвадны metallавы шар (Φ) | 0.3мм |
| Нярвадны metallавы пруцi (Φ) | 0.2*2мм | |
| Скляны шар (Φ) | 1.0мм | |
| Керамічны шар (Φ) | 1.0мм | |
| Падтрымка алгарытма | Выгледжанне чужых аб’ектаў/дефектаў | |
| Канфігурацыя | Узровень захоплення IP | Перадача:IP66 |
| Іншае:IP54 | ||
| Рэжым сігналізацыі | Звук і святло | |
| Экран | Экран 21.5 дюйма з дотычнай панелью, раздзеленне 1920 * 1080 | |
| Спосаб охлаждэння | Прамышленнае кондыцыяванне | |
| Спосаб захавання | 4 шары захапных гарнір у ўваходзе і выходзе | |
| Безапаснасць адлюминавання | ≤1μSv/г | |
| Зdroбнеўшы прылад | AC220V,50/60Гц | |
| Рабочая температура | -10~40℃ | |
| інтэрфейс | Эфэрнет, USB; Падтрымка прычынення MES | |
